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| Messung\Berechnung des Rauschen eines CCD-Chips https://forum.vdsastro.de/viewtopic.php?t=3196 |
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| Autor: | Sven Krautwurst [ 31. März 2010, 12:08:08 PM ] |
| Betreff des Beitrags: | Messung\Berechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Hallo, ich bin neu hier und weiss noch nicht ob ich überhaupt richtig bin. Ich studiere Physikalische Technik und schreibe zur Zeit meine Diplomarbeit am Max-Plack-Institut fuer Chemie. Thema ist die Untersuchung der Spurenstoffkonzentrationen in der Erdatmosphäre mit Hilfe eines MAX-DOAS-Systems. Wenn nähre Informationen gewünscht sind gebe ich gerne Auskunft. Für meine Frage, denke ich, sind sie unwichtig. Wenn ich das recht gesehen habe handelt es sich zwar mehr um ein Astroforum, aber meine Frage betrifft auch mehr den CCD-Sensor, der das Spektrum aufnimmt. Vllt kann mir ja jemand weiter helfen oder ne Quelle nennen. Ich möchte das Rauschen (Geräte- und Photonenrauschen) meines Sensors (1024x255 Pixel) charakterisieren und weiss nicht genau wie ich vorgehen soll. Das Geräterauschen kann bei abgedunkeltem Sensor bestimmt werden. Ich bin mir nur bei der Statistik nicht sicher. 1) Ich addiere z.B. 10 Spektren bei der kleinsten Belichtungszeit auf und bilde den Mittelwert und die Standartabweichung. Danach rechne ich dies wieder auf ein Spektrum runter (Mittelwert:10; Standarteichung:Wurzel(10)). Steht dann die Standartabweichung für mein Rauschen? 2) Alternative nehme ich zwei Spektren auf und ziehe diese voneinander ab. Vom Differenzspektrum kann nun wieder MW und sigma bestimmt werden. Hier steht doch dann der MW fuer das Rauschen, oder? Das Photonenrauschen kann ja über Wurzel(Counts) berechnet werden. Es müsste sich doch auch über den zweiten Weg von oben messen lassen. Das klingt alles ein bisschen konfus. Vllt kann mir trotzdem jemand weiterhelfen. Schon mal Danke schön. Gruesse Sven |
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| Autor: | Otmar Stahl [ 31. März 2010, 12:33:30 PM ] |
| Betreff des Beitrags: | Messung\Berechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Hallo, On 03/31/2010 12:08 PM, Sven Krautwurst wrote: Zitat: Ich möchte das Rauschen (Geräte- und Photonenrauschen) meines Sensors
Es heißt Standardabweichung (1024x255 Pixel) charakterisieren und weiss nicht genau wie ich vorgehen soll. Das Geräterauschen kann bei abgedunkeltem Sensor bestimmt werden. Ich bin mir nur bei der Statistik nicht sicher. 1) Ich addiere z.B. 10 Spektren bei der kleinsten Belichtungszeit auf und bilde den Mittelwert und die Standartabweichung. Danach rechne ich dies wieder auf ein Spektrum runter (Mittelwert:10; Standarteichung:Wurzel(10)). Steht dann die Standartabweichung für mein Rauschen? Wenn ich das richtig verstanden habe: Das kann man so messen, ja. Zitat: 2) Alternative nehme ich zwei Spektren auf und ziehe diese voneinander
Nein. Der MW sollte doch Null sein, oder? Das sigma der Differenz ist ab. Vom Differenzspektrum kann nun wieder MW und sigma bestimmt werden. Hier steht doch dann der MW fuer das Rauschen, oder? aber wurzel(2) mal das sigma der Einzelaufnahme. Das suchst Du. die wurzel(2) geht ein, weil zwei Spektren eingehen. Zitat: Das Photonenrauschen kann ja über Wurzel(Counts) berechnet werden. Es
Das stimmt nicht. Das Photonenrauschen ist Wurzel(Photonen), die Countsmüsste sich doch auch über den zweiten Weg von oben messen lassen. sind aber eine willkürliche Einheit, die nicht der Zählstatistik gehorchen. Du musst also erst Counts in Photonen (bzw. hier Elektronen) konvertieren, dann geht das. Mehr zu CCD noise z.B. hier: http://www.qsimaging.com/ccd_noise.html Herzliche Grüße, Otmar |
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| Autor: | Sven Krautwurst [ 31. März 2010, 14:15:36 PM ] |
| Betreff des Beitrags: | |
Danke Otmar. Hast natuerlich recht, heisst Standardabweichung. Die Website ist uebrigens super, danke schoen. Zitat:
Nein. Der MW sollte doch Null sein, oder? Das sigma der Differenz ist aber wurzel(2) mal das sigma der Einzelaufnahme. Das suchst Du. die wurzel(2) geht ein, weil zwei Spektren eingehen. Das stimmt natuerlich. Wenn ich das Geraeterauschen bestimme ist der Mittelwert ca. 0. Rein mathematisch muss ich dann den Mittelwert der Standardabweichungen der Einzelaufnahmen bilden und den mit der Wurzel(Anzahl der Aufnahmen) multiplizieren. Egal ob ich das Rauschen\Standardabweichung ueber ein Differenzspektrum oder ueber die Addition von mehreren Spektren bilde, sigma sollte in beiden Faellen ungefaehr gleich sein?! Zitat:
Das stimmt nicht. Das Photonenrauschen ist Wurzel(Photonen), die Counts sind aber eine willkürliche Einheit, die nicht der Zählstatistik gehorchen. Du musst also erst Counts in Photonen (bzw. hier Elektronen) konvertieren, dann geht das. Auch hier hast du natuerlich Recht, allerdings handelt es sich ja nur um einen Faktor oder auch Sensitivitaet. Sprich: 140 Elektronen entsprechen z.B. 10 Counts -> Wurzel(14*Counts). Aber wenn ich das jetzt richtig aus der Messung heraus bestimmen moechte, die dann natuerlich beide Rauscharten enthaelt, obwohl das Geraeterauschen nicht ins Gewicht faellt... Ich bin dann auf folgendes Problem gestossen: Ich suche mir zuerst eine Lichtquelle , Halogenlampe (weiss allerdings nicht ob das eine stabile Quelle ist) oder eben die Sonne. Dann nehme ich kurz hintereinander wieder 2 identische Spektren auf und bilde die Differenz. So...in den unbelichteten Bereichen ist der MW wieder 0. In den belichteten allerdings von 0 verschieden (MW der Einzelspektren ca. 10000, MW des Differenzspektrums bis zu +-500 -> 5%). Je hoeher die Belichtung\Aussteuerung, desto hoeher diese Abweichung. Nehme ich ein Sonnenspektrum von 330nm bis 460nm auf, habe ich im Differenzspektrum einen richtig schoenen Trend der Abweichung von 0 bis eben dem Maximalwert. Haengt dies mit dem Rauschen oder der Reproduzierbarkeit selbst zusammen oder sind es einfach zu grosse Schwankungen der Lichtquelle? Sven |
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| Autor: | Otmar Stahl [ 31. März 2010, 14:49:02 PM ] |
| Betreff des Beitrags: | MessungBerechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Hallo Sven, On 03/31/2010 02:15 PM, Sven Krautwurst wrote: Zitat: Das stimmt natuerlich. Wenn ich das Geraeterauschen bestimme ist der
Das Rauschen sollte natürlich, unabhängig von der Methode, immer richtig Mittelwert ca. 0. Rein mathematisch muss ich dann den Mittelwert der Standardabweichungen der Einzelaufnahmen bilden und den mit der Wurzel(Anzahl der Aufnahmen) multiplizieren. Egal ob ich das Rauschen\Standardabweichung ueber ein Differenzspektrum oder ueber die Addition von mehreren Spektren bilde, sigma sollte in beiden Faellen ungefaehr gleich sein?! rauskommen Zitat: Auch hier hast du natuerlich Recht, allerdings handelt es sich ja nur um
Richtig.einen Faktor oder auch Sensitivitaet. Sprich: 140 Elektronen entsprechen z.B. 10 Counts -> Wurzel(14*Counts). Zitat: Aber wenn ich das jetzt richtig aus der Messung heraus bestimmen
Bei genügend Licht dominiert irgendwann das Photonenrauschen, das stimmt.moechte, die dann natuerlich beide Rauscharten enthaelt, obwohl das Geraeterauschen nicht ins Gewicht faellt... Zitat: Ich bin dann auf folgendes Problem gestossen:
Sehr wahrscheinlich schwankt Deine Lichtquelle, oder Dein Apparat ist Ich suche mir zuerst eine Lichtquelle , Halogenlampe (weiss allerdings nicht ob das eine stabile Quelle ist) oder eben die Sonne. Dann nehme ich kurz hintereinander wieder 2 identische Spektren auf und bilde die Differenz. So...in den unbelichteten Bereichen ist der MW wieder 0. In den belichteten allerdings von 0 verschieden (MW der Einzelspektren ca. 10000, MW des Differenzspektrums bis zu +-500 -> 5%). Je hoeher die Belichtung\Aussteuerung, desto hoeher diese Abweichung. Nehme ich ein Sonnenspektrum von 330nm bis 460nm auf, habe ich im Differenzspektrum einen richtig schoenen Trend der Abweichung von 0 bis eben dem Maximalwert. Haengt dies mit dem Rauschen oder der Reproduzierbarkeit selbst zusammen oder sind es einfach zu grosse Schwankungen der Lichtquelle? nicht stabil genug. Was willst Du mit dieser Messung bestimmen? Wenn es um das Photonenrauschen geht, das kannst Du nicht wirklich bestimmen, das ist ja quasi definiert als Wurzel(Anzahl Elektronen). Du kannst daraus also nur den Anzahl der Elektronen bestimmen und damit den Konversionsfaktor (Elektronen/ADU). Dazu bildest Du (nach Bias-Subtraktion) den Quotienten der beiden Aufnahmen (statt der Differenz). Das Rauschen des Quotienten ist dann Wurzel(2*Elektronen)/(Elektronen) = wurzel(2/Elektronen). Damit liefert Dir das Rauschen also die Anzahl der Elektronen und mit der bekannten Anzahl der ADU den Konversionsfaktor. Bei der Quotientenbildung ist die Stabilität des Aufbaus oder der Lichtquelle nicht ganz so wichtig. Herzliche Grüße, Otmar |
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| Autor: | Thomas Rolfes [ 04. April 2010, 11:10:19 AM ] |
| Betreff des Beitrags: | Re: Messung\Berechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
google: ccd noise filetype:pdf http://www.pco.de/fileadmin/user_upload ... r_0504.pdf http://www.stanfordcomputeroptics.com/P ... apprvd.pdf http://wjamesmaclean.net/Papers/noise-TIP.pdf http://lincolnventures.org/images/A%20T ... 0Noise.pdf Es gibt auch einige Bücher zum Thema CCD, z.B. S. Howell, Handbook of CCD Astronomy, Cambridge 2006. Grüße Thomas |
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| Autor: | Sven Krautwurst [ 07. April 2010, 15:07:33 PM ] |
| Betreff des Beitrags: | Re: MessungBerechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Danke fuer die Muehe Otmar und danke fuer die Quellen Thomas. Die werden erstmal sehr hilfreich sein. Zitat:
Sehr wahrscheinlich schwankt Deine Lichtquelle, oder Dein Apparat ist
nicht stabil genug. Was willst Du mit dieser Messung bestimmen? Wenn es um das Photonenrauschen geht, Otmar Am Ende soll mit dem Spektrometer das Streulicht der Sonne im Bereich von 300 bis 460nm untersucht werden. Man erhaelt in erster Naeherung ein Sonnenspektrum mit den Frauenhoferlinien. Bei genauerer Untersuchung kann man nun aus diesem Spektrum aber auch Absorptionsbanden -linien von Spurenstoffe in unserer Atmosphaere heraus praeparieren und z.B. No2, So2, Wasser uvm. quantitativ und qualitativ bestimmten. Da der Spektrograph und die CCD-Kamera schon laengere Zeit stehen muessen sie eben erst mal auf ihre Grundeigenschaften untersucht werden - Dunkelstrom, Offset, Rauschen, Streulicht. Nachtraeglich eingefuegt: So wie es aussieht, liegt die Verschiebung des Mittelwertes im Differenzbild an der Lichtquelle Sonne. Habe heute wieder zwei Bilder aufgenommen und der MW des Differenzbildes ist fast Null (Keine Wolken am Himmel und somit auch weniger Intensitaetsschwankungen). Nun ist aber noch eine weitere Frage aufgetaucht: Der Chip besitzt 1024 Spalten und 255 Zeilen. Die 255 Zeilen in jeder Spalte fasse ich nun einer zusammen. Somit kann der MW und die Standardabweichung (SW) als Funktion der Spalten dargestellt werden. Nun zur SW: Hier muss jede Spalte noch durch Wurzel(2) geteilt werden um das entgueltige Rauschen zu erhalten. Dieses Rauschen sollte ja jetzt vom Photonen- bzw. "Count-"rauschen dominiert werden und wird es auch. Wenn nun mein Signal ca. 14000 Counts hat, dann ist die Wurzel davon ca. 120 und das ist doch dann das Rauschen, oder? Das gemessene Rauschen bzw. die errechnete Standardabweichung ist aber in diesem Fall nur ca. 30 Counts. Wo ist mein Denkfehler? Gruss, Sven |
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| Autor: | Sander Slijkhuis [ 09. April 2010, 15:16:05 PM ] |
| Betreff des Beitrags: | Re: MessungBerechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Hallo Sven, Zitat:
Wenn nun mein Signal ca. 14000 Counts hat, dann ist die Wurzel davon ca. 120 und das ist doch dann das Rauschen, oder?
SQRT(counts) = SQRT(photonen) * SQRT(counts/photon)Das gemessene Rauschen bzw. die errechnete Standardabweichung ist aber in diesem Fall nur ca. 30 Counts. Wo ist mein Denkfehler? noise_counts = SQRT(photonen) * (counts/photon) Gruesse, Sander |
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| Autor: | Sven Krautwurst [ 12. April 2010, 10:29:20 AM ] |
| Betreff des Beitrags: | Re: MessungBerechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Hi Sander, vielen Dank. Die Formeln passen exakt. Zitat:
SQRT(counts) = SQRT(photonen) * SQRT(counts/photon)
Die zweite glaube ich schon mal gesehen zu haben, wenn man sie einbisschen umwandelt:noise_counts = SQRT(photonen) * (counts/photon) noise_counts = SQRT(a*counts)*(counts/(a*counts)) mit a := Sensitivitaet des Sensors noise_counts = SQRT(1/a*counts) Ist das Absicht, dass am Anfang der Gleichung PHOTONEN und am Ende nur PHOTON ohne en steht? Gruesse, Sven |
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| Autor: | Otmar Stahl [ 12. April 2010, 10:40:54 AM ] |
| Betreff des Beitrags: | MessungBerechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Hallo Sven, On 04/12/2010 10:29 AM, Sven Krautwurst wrote: Zitat: Hi Sander,
Ja. "photonen" ist die Zahl der Photonen. Weiter hinten steht dannvielen Dank. Die Formeln passen exakt. Sander Slijkhuis wrote: Zitat:
SQRT(counts) = SQRT(photonen) * SQRT(counts/photon)
Die zweite glaube ich schon mal gesehen zu haben, wenn man sie einbisschen umwandelt:noise_counts = SQRT(photonen) * (counts/photon) noise_counts = SQRT(a*counts)*(counts/(a*counts)) mit a := Sensitivitaet des Sensors noise_counts = SQRT(1/a*counts) Ist das Absicht, dass am Anfang der Gleichung PHOTONEN und am Ende nur PHOTON ohne en steht? "counts/photon", das ist der Umrechnungsfaktor von Photonen in "counts", die der Detektor liefert. Zitat: Gruesse,
Herzliche Grüße,Sven Otmar |
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| Autor: | Sander Slijkhuis [ 12. April 2010, 10:55:12 AM ] |
| Betreff des Beitrags: | Re: MessungBerechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Zitat:
Ist das Absicht, dass am Anfang der Gleichung PHOTONEN und am Ende nur PHOTON ohne en steht?
Ja, PHOTONEN bezieht sich auf die Anzahl von Photonen in der Messung die betrachtet wird.(counts/photon) is fuer jede Messung die gleiche Umwandlungsfaktor, die von der Detektoreffizienz und der elektronische Verstaerkung bestimmt wird: wenn x photonen y counts "verursachen" dann gibt es [immer] y/x counts per photon. Da die Detektoreffizienz (quantum efficiency) Wellenlaenge-abhangig ist, ist counts/photon das auch. Ein haendlichere Groesse ist (counts/electron) die nur von der Verstaerker abhangt. Da die Umwandlung von Photonen in Photo-Elektronen ein stochastischer Prozess ist (Zufallseffekt ob ein Photon ein Elektron losslchlagen kann), geht das Elektronenrauschen auch mit SQRT(Elektronen). Der Verstaerker gibt ein immer gleicher (= nicht-stochastischer) Umwandlung, deshalb muss der Ausserhalb der SQRT bleiben. Gruesse, Sander |
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| Autor: | Wolfgang Renz [ 12. April 2010, 11:24:22 AM ] |
| Betreff des Beitrags: | MessungBerechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Hallo Sven Wenn du den Sensor und die Kamera genau charakterisieren willst, dann ist wohl eine DTC (Dark Transfer Curve) und PTC (Photon Transfer Curve) das, mit dem du das am besten und detailiertesten machen kann, was auch state-of-art ist. Siehe insbesondere die Janesick Artikel: http://www.google.de/webhp?q=PTC+photon+transfer+curve http://www.google.de/webhp?q=DTC+dark+transfer+curve und Richard Crisp (http://www.narrowbandimaging.com), der das auch bei den Amateurastronomen für ihre CCDs propagiert: http://www.google.de/search?hl=de&q=sit ... =&gs_rfai= Characterization of Critical Camera Performance Parameters via Photon Transfer Technology http://www.narrowbandimaging.com/dark_t ... s_page.htm Measuring DSNU, PSNU, Full Well, Camera Gain, FPN, DFPN in CCD camera system http://www.narrowbandimaging.com/dark_t ... curves.htm Photon Transfer Analysis method http://www.narrowbandimaging.com/ptc_me ... 9_page.htm http://www.narrowbandimaging.com/images ... ts_web.pdf Photon Transfer Curves http://www.narrowbandimaging.com/photon ... s_page.htm The Mathematics of Flat Fielding http://www.narrowbandimaging.com/mathem ... g_page.htm http://www.narrowbandimaging.com/images ... _crisp.pdf Wenn du elektrische Schaltungen für eine konstante/stabilisierte Lichtquelle brauchst, dann könnte ich die auch entsprechende Infos zukommen lassen. Das Geheimnis zum Erfolg solcher Messungen ist wohl, dass man nicht ver- sucht, direkt absolute Werte aus den Spektren abzuleiten, sondern sie im- mer relativ zu benachbarten Bereichen im Spektrum setzt (ggf. zu einem normierten spektralen Verlauf, der um bekannte Einflüsse korrigiert wurde) und erst dann über eine Kalibrierkurve versucht absolute Werte zu bekom- men. Im Labor bzw. für ein geschlossenes Messsystem ist das meist noch relativ einfach, weil man dort viele der Bedingungen, die sich in der Natur ändern können, noch kontrollieren bzw. konstant halten kann (Temperatur, Druck, Mischungsverhältnis der Gase, usw.). Bei einem offenen System in der Natur kann das sehr viel komplizierter bis (bei limitierten Resourcen aller Art und sehr hohen Anforderungen an die Genauigkeit) unmöglich werden, wenn man nicht alle Faktoren entsprechend berücksichtigen/kalibrieren kann, die das Ergebnis signifikant beeinflussen können. Wie soll denn da gemessen werden ? Nur passiv, was die Atmosphäre von sich aus reflektiert/emittiert ? Oder aktiv, z.B. mit Einsatz eines Laser oder ähnliches ? Wenn aktiv, Empfänger on-axis oder seitlich versetzt ? Sollen da dann auch CO2-Konzentrationen in verschiedenen Höhen heraus- purtzeln, oder nur ein einzelner "Mittelwert" über die gesamte Atmosphäre ? Darft du dann auch Messballons steigen lassen, welche die tatsächlichen CO2-Konzentrationen in verschiedenen Höhen misst ? ... Clear skies Wolfgang -- Wolfgang Renz, Karlsruhe, Germany |
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| Autor: | Sven Krautwurst [ 12. April 2010, 16:05:53 PM ] |
| Betreff des Beitrags: | Re: MessungBerechnung des Rauschen eines CCD-Chips |
Hi, Erst mal danke euch allen fuer die hilfreichen Tips und Unterlagen. Die haben sehr weitergeholfen. So ausfuehrlich sollte es eigentlich gar nicht sein. Glaube ich kann das ganze so langsam abschliessen. @Wolfgang: ich nehme das Spektrum des Sonnenlichtes auf und an dieses werden dann Absorptionsquerschnitte verschiedener Spurengase angefittet. Ueber diese Fits kann man dann die Konzentration bestimmen. Das ganze funktionert nach dem DOAS Prinzip, wenn dir das was sagt. Gebe gerne auch weitere Informationen. Sooo genau will ich ihn ja nicht charakterisieren. Es soll nur ein gefuehl dafuer geben, wie sich der Sensor verhaelt. Mein Hauptproblem war\ist, dass ich eben die gemessene Standartabweichung des Differenzbildes irgendwie in Einklang mit der Theorie bringen moechte und da habt ihr mir schon ein ganzes Stueck geholfen. Das Photonenrauschen war mir halt immer nur als Wurzel(Counts) bekannt und so hab ich es auch in verschiedenen Arbeiten schon gelesen. @Cander: Dann passte meine Umstellung der Formel nicht so ganz, glaube aber ich haben nun die Loesung: sigma=Wurzel(a*Counts*eta)*1/a mit a= Sensitivitaet und eta=Quanteneffizient d.h. unter Beruecksichtigung, dass das Gesamtrauschen vom Photonenrauschen dominiert wird, kann ich die obige Formel zur Berechnung des Rauschens heranziehen. Nehmen wir mal an die Sensitivitaet a=16 (16 Elektronen ergeben ein Count) und die Quanteneffizient des Chips ist im relevanten Wellenlaengenbereich linear ansteigend (von 0,6 bei 320nm bie 0,92 bei 400nm) und bleibt schliesslich bis 460nm bei 0,92. Mit Hilfe von Excel kann ich nun aus einen kalibrierten Spektrum ueber die obige Formel fuer jede Spalte die Standartabweichung berechnen. Die so berechnete Standartabweichung stimmt super mit der gemessenen ueberein. Bitte sagt jetzt nicht das ich falsch liege. Nachtrag am 13.4.10 um 14:00 Uhr: Die Formel war jetzt mehr geraten, bis es eben die beste Uebereinstimmung mit meinen Messwerten gab. Ich kann als Grundlage aber auch die vom Sander nehmen: noise_counts = SQRT(photonen) * (counts/photon) und setzte PHOTONEN = a*Counts/eta COUNTS/PHOTON = eta/a -> noise_counts = SQRT(a*Counts/eta)*eta/a = SQRT(eta/a*Counts) Sven |
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